XDL210熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構(gòu)以及電鍍行業(yè)無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。對RoHS環(huán)境有害物質(zhì)的測試，鹵素含量的檢測分析，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U);·一次可同時分析3層以上鍍層;鍍層厚度分析檢出限可達0.01um;

分析厚度一般為0.1um到50um之間（視材料而不同);

多次測量重復(fù)性可達0.1um(對于小于1um的*外層鍍層);長期工作穩(wěn)定性為0.lum(對于小于1um的*外層鍍層);配置小孔準直器，測試光斑在0.1mm以內(nèi);

探測器能量分辨率為145土5eV;

應(yīng)用于金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;